QVI® SNAP™ Digitalt Målesystem

SNAP kan måle alt som befinner seg innenfor et 78 mm synsfelt. Teleentrisk optikk tillater nøyaktige målinger opp til 35 mm komponenthøyde (ved høyeste forstørrelse) eller målinger opp til 75 mm komponenthøyde. Målebordet kan justeres 75 mm i høyden. Deler høyere enn 100 mm kan også måles. Et spesialdesignet megapikselkamera produserer høyoppløselige bilder. Native Video™ bildebehandling muliggjør zooming i ethvert bildeområde for måling av små trekk med en oppløsning på opptil 50 nanometer — og alt dette uten å flytte delen.