Leica DCM8

Kombinert konfokal og interferometrisk optisk profilometer for ikke-destruktiv tredimensjonal overflatemåling. Ultrarask analyse gjennom kraftig programvare, enkel modusvalg med ett klikk og konfokal skanning uten bevegelige deler. For overflater med bratte skråninger eller komplekse former: HD konfokal måling for en vertikal oppløsning på opptil 2 nm. For relativt flate overflater med mikrostrukturer: tre moduser for interferometri tillater en oppløsning på opptil 0,1 nm. • Innovativ HD-mikrodisplay-skanningsteknologi: ingen bevegelige deler i sensorhodet, noe som gir rask, reproducerbar datainnsamling. • Integrert HD CCD-kamera med stort synsfelt, som gjør det mulig å analysere et større område av prøveoverflaten på en gang. • Supersnabb XY-topografi-sømmodus for en sømløs, presis modell av et enda større overflateområde. • 4 forskjellige fargede LED-lamper i sensorhodet for imponerende, realistiske...