Produkter for software (8)

Dedikert bildeanalyseprogramvare for optiske mikroskoper og laboratoriebilder MountainsMap® Image-programvaren gjør det mulig å: - Legge til dimensjoner til bildene dine og gjøre dem om til metrologidata. - Ekstrahere horisontale konturer for geometrisk dimensjonering. - Kvantifisere binære, gråtonede og fargefargede flekker, korn og partikler. - Forbedre bildekvaliteten og fjerne defekter. - Konvertere fargebilder til 3D for bedre forståelse av fargevariasjon. - Koble bilder med andre typer overflatedata håndtert av Mountains®.

Dedikert programvare for bildebehandling, analyse og metrologi for skanning av 3D-overflateprofilometre ved bruk av kontakt- eller ikke-kontaktteknikker - inkludert stilusprofiler, lasertrianguleringsprofiler, konfokale punktsensorprofiler, autofokusprofiler og hvitt lys interferometre. Kompatibel med alle skannende 3D-overflateprofilometre brukt til overflateanalyse og metrologi. Sanntids 3D-bildebehandling av overflatetopografi - på hvilket som helst zoomnivå, vinkel og høydeforsterkning. Korriger måleartefakter - topper, unormale skannlinjer, manglende datapunkter, spisspåvirkning. Analyser overflategeometri - avstander, vinkler, arealer, volum, trinnhøyder, koplanaritet. Bruk avanserte ruhet/bølgemønster filtreringsteknikker - definert i ISO 16610. Analyser overflatestruktur - i samsvar med de nyeste ISO- og nasjonale standardene, inkludert ISO 25178 og ISO 4287. Ekstraher og analyser underflater - studer dem akkurat som fullstendig målte overflater. Øk profilometerets vertikale rekkevidde virtuelt i programvaren - kombiner målinger gjort på forskjellige høyder. Enkel integrering i laboratorie- og produksjonsmiljøer - eksport av alle numeriske resultater. Legg til valgfrie moduler for avansert overflatestruktur- og formanalyse, konturanalyse, korn- og partikkelanalyse, FFT-basert analyse og mer.

Dedikert programvare for overflateavbildning, analyse og metrologi for 3D optiske mikroskoper og profiler som måler topografi - konfokale mikroskoper, interferometriske mikroskoper, digitale holografiske mikroskoper, fokusvariasjonsmikroskoper & strukturerte lysystemer. Kompatibel med alle 3D optiske profiler og mikroskoper brukt til overflateanalyse og metrologi. Sanntidsavbildning av 3D overflatetopografi med nesten perfekt belysning. 3D overflateoverlegg for rask funksjonslokalisering - overlegg farge- og intensitetsbilder på 3D topografi. Fjern datafangstartefakter - uteliggere, lokale defekter. Øk synsfeltet virtuelt - sett sammen målinger ved hjelp av overflatetopografi-søm. Analyser ruhet og overflate tekstur - i samsvar med de nyeste ISO- og nasjonale standardene. Analyser overflategeometri - inkludert volum av overflatestrukturer (klumper, hull), trinnhøyder. Ekstraher og analyser interesseområder - studer dem på samme måte som fullstendig målte overflater. 3D rekonstruksjon av multi-fokusbilder - rekonstruer 3D topografi fra multi-fokus bilde-stabler. Enkel integrering i laboratorium og produksjonsmiljøer - eksport av alle numeriske resultater. Enkel publisering - eksporter analyse-dokumenter, sider og individuelle bilder opptil 1200 dpi. Legg til valgfrie moduler for avansert overflate teksturanalyse, konturanalyse, korn- og partikkelanalyse, 3D Fourier-analyse, bildeko-lokalisering, statistikk og mer.

Dedikert bildeforbedring, 3D-rekonstruksjon og metrologi programvare for skanning elektronmikroskoper (SEM) SEM bildefargelegging gjort enkelt - Gå fra svart-hvitt til farge uten anstrengelse på bare noen få klikk. Superrask 3D-rekonstruksjon av overflatetopografi på sekunder - fra SEM anaglyphs, to påfølgende SEM-skanninger i forskjellige helningsvinkler eller fire SEM-bilder oppnådd av en 4-kvadrantdetektor. 3D-forbedring for enkelt SEM-bilder. Sanntids 3D-visualisering på ethvert zoomnivå eller vinkel – SEM bildeoverlegg på 3D-topografi for forbedret gjengivelse. SEM bildeforbedring og korreksjon – automatisk bi-fargelegging, fargede 3D intensitetskarter, forbedret 3D-gjengivelse, konfigurerbar belysning og høydeforsterkning, grånivådriftkorreksjon og støyreduksjon. Topografimålinger - avstander, trinnhøyder, arealer, volum, dimensjonering av profilkonturer og tverrsnitt hentet fra overflater. Karakterisering av overflateujevnhet og tekstur – avanserte ujevnhet/bølgemålingsteknikker – 2D og 3D parametere fra Ra til ISO 25178. Avansert overflateanalyse av små objekter, strukturer og trekk – morfologi, korn og partikkelstørrelser og mer. Korrelerende SEM-studier – kombiner SEM-bilder fra forskjellige detektorer (SE + BSE) – kolokaliser SEM-bilder og 3D overflatedata fra AFM/SPMs og overlegg SEM-bilder på 3D-topografi.

Dedikert spektrometri programvare for Raman- og FTIR-spektrometre Visualisering & analyse av spektra & hyperkubene MountainsMap® HyperSpectral programvare tilbyr: - interaktiv visualisering av spektra, serier av spektra og hyperkubene - hyperkub densitetskartlegging og sammensatt analyse - 3D-analyse av flate hyperkuber. Alt dette i et komfortabelt desktop publishing-miljø hvor du enkelt kan lage omfattende og nøyaktige overflateanalyse rapporter. Valgfrie moduler er tilgjengelige for avanserte og spesialiserte applikasjoner, inkludert analyse av korn og partikler.

Dedikert programvare for 2D kontakt- og ikke-kontakt profilometre Det beste programvaren for overflateanalyse for alle typer 2D profilometre MountainsMap® Profile analyserer overflategeometri og grunnleggende overflatestruktur, og beregner parametere i samsvar med ISO 4287 og andre standarder. Overflateanalyse rapporter opprettes i et komfortabelt desktop publishing-miljø, og serier av målinger kan analyseres automatisk ved hjelp av maler. Analysearbeidsflyten sikrer full metrologisk sporbarhet og gjør det enkelt å finjustere ethvert analysetrinn. Valgfrie moduler er tilgjengelige for avansert 2D overflateanalyse.

alt-i-ett overflatebilde, analyse og metrologi programvare superset for alle typer overflatebilde- og måleinstrumenter Topp av linjen overflatebilde, analyse og metrologi programvare MountainsMap® Premium programvare er et superset av alle andre MountainsMap® produkter. Den er klar til bruk med det bredeste utvalget av overflatebilde-, analyse- og metrologiinstrumenter. Avanserte funksjoner inkludert Den mest kraftfulle løsningen for overflatebilde, analyse og metrologi, MountainsMap® Premium inkluderer alle de avanserte overflateanalysefunksjonene som er tilgjengelige i valgfrie moduler for andre MountainsMap® produkter. De eneste valgfrie modulene er for høyt spesialiserte applikasjoner. Alle de nyeste standardene & metoder Ved å arbeide i MountainsMap® Premiums smarte desktop publishing-miljø er det enkelt å omdanne overflatedataene dine til detaljerte visuelle overflateanalyse-rapporter i samsvar med alle de nyeste standardene og metodene.

Universell, allsidig, modulær programvareløsning for overflateavbildning, analyse og metrologi, kompatibel med alle typer overflateavbildnings- og måleinstrumenter. Den beste programvaren for inkrementell overflateanalyse for flere instrumenttyper. MountainsMap® Universal-programvaren er kompatibel med det samme brede spekteret av instrumenter som den toppmoderne MountainsMap® Premium-løsningen. Mens MountainsMap® Premium er en alt-i-ett-løsning, er MountainsMap® Universal en inkrementell løsning. Den inneholder et komplett sett med grunnleggende analytiske studier. Du kan legge til mange valgfrie moduler som gir den større overflateanalysekapasiteten som kreves for avanserte eller spesialiserte applikasjoner. De nyeste standardene & metoder Uansett hvilken MountainsMap® Universal-konfigurasjon du velger - fra et grunnleggende system til et avansert system med tilleggsmoduler - er det enkelt å lage analyse rapporter i samsvar med de nyeste standardene. Du lager visuelle rapporter ramme for ramme, side for side, og arbeider i et svært intuitivt desktop publishing-miljø. En hierarkisk analysearbeidsflyt lar deg finjustere ethvert analysetrinn når som helst og sikrer full metrologisk sporbarhet.