Produkter for semiconductor (10)

Halvlederteknologi

Halvlederteknologi

Halvlederteknologi
LED-UV Kjede Transportør

LED-UV Kjede Transportør

I motsetning til kvikksølvdamplamper bruker LED-herding halvlederbaserte LED-er for å generere ultrafiolett (UV) lys.
Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk og halvledere DM3 XL

Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk og halvledere DM3 XL

Hastighet er viktig i inspeksjon, prosesskontroll eller analyse av defekter og feil innen mikroelektronikk og halvledere. Jo raskere du oppdager en defekt, jo raskere kan du reagere. Med et stort synsfelt gjør inspeksjonssystemet DM3 XL det mulig for teamet ditt å identifisere defekter raskere og øke ytelsen. Dra nytte av det 30 % utvidede synsfeltet fra det unike makroobjektivet. DM3 XL bruker LED-belysning for alle kontrastmetoder. LED-belysning gir en konstant fargetemperatur og tilbyr ekte fargebilder på alle intensitetsnivåer. - Øk ytelsen din - Pålitelig oppdagelse av utilstrekkelig utvikling på kanten eller i midten av waferen - Oppdag uregelmessige radielle lagtykkelser - Fangst og behandling av realistiske fargebilder på alle intensitetsnivåer - Reproduserbare resultater
Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk og halvledere DM3 XL

Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk og halvledere DM3 XL

Hastighet er viktig i inspeksjon, prosesskontroll eller analyse av defekter og feil for mikroelektronikk- og halvlederindustrien. Jo raskere en defekt oppdages, desto raskere kan man reagere. Med et bredt synsfelt gjør inspeksjonssystemet DM3 XL det mulig for teamet ditt å identifisere defekter raskere og øke utbyttet. Dra nytte av den 30% økningen i synsfeltet til det unike makroobjektivet. I tillegg bruker DM3 XL LED-belysning for alle kontrastmetoder. LED-belysning gir en konstant fargetemperatur og tilbyr ekte fargebilder på alle intensitetsnivåer. - Øk utbyttet ditt - Pålitelig deteksjon av utilstrekkelig utvikling på kanten eller i midten av en wafer. - Deteksjon av uregelmessige tykkelser av det radiale filmen - Realistiske fargebilder på alle intensitetsnivåer - Reproduserbare resultater
Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk og halvledere DM3 XL

Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk og halvledere DM3 XL

Se mer betyr å jobbe raskere. For å gjøre en rask skanning av store komponenter (opptil 6’’), gir DM3 XL et eksepsjonelt makroobjektiv. Med en forstørrelse på 0,7x fanger det på en gang et synsfelt på 35,7 mm, som er 30 % mer enn med andre konvensjonelle skanningsobjektiver. Med makroobjektivet har feil ingen sjanse: - Øke avkastningen - Pålitelig oppdage en mangel ved kanten eller midten av en plate - Oppdage ujevn tykkelse av en radialfilm
HALVLEDER Progressiv og innovativ

HALVLEDER Progressiv og innovativ

I produksjonen av halvledere brukes omrørere hovedsakelig i kondisjonering av polerings- og kuttesuspensjoner, etsestoffer og andre hjelpestoffer, rengjøringsløsninger, eller i kjemikaliegjenvinning. Kravene som stilles til røringssystemer er ekstremt krevende. Nesten alltid råder det rene romforhold, noe som betyr at drivverk og tetninger må være designet uten slitasje eller lekkasje. Deler som kommer i kontakt med mediet, som aksel og omrøringselement, må ofte produseres med metallfrie overflater på grunn av medienes aggressivitet og renhetskravene. Også på dette området kan Geppert Ruhrtechnik se tilbake på en svært vellykket historie. Alle kjente brikkefabrikanter tilhører vår kundebase, samt produsentene av spesialkjemikaliene som brukes på dette feltet. I tillegg brukes våre omrørere i brede produksjonsområder for solceller.
Halvlederreléer og kontaktorer samt thyristormoduler

Halvlederreléer og kontaktorer samt thyristormoduler

Halvlederreléer for PCB-montasje eller skrue-montasje, samt halvlederkontakter for DIN-skinne-montasje for AC- og DC-laster. I tillegg trefase halvlederkontakter og thyristorregulatorer.
Broliker P2000M 4A

Broliker P2000M 4A

Broliker 20 A Toppstrøm 4 A Kontinuerlig Strøm
Klemmen blokk med 4-16 dioder, diodetype P2000M

Klemmen blokk med 4-16 dioder, diodetype P2000M

Diodemodul for DIN-skinne montering med opptil 16 dioder, diodetype P2000M
Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk- og halvlederindustrien DM3 XL

Leica DM3 XL - Inspeksjonssystemet for mikroelektronikk- og halvlederindustrien DM3 XL

Ved inspeksjon, prosesskontroll eller analyse av defekter og feil innen mikroelektronikk- og halvlederbransjen, er hastighet avgjørende. Jo raskere en defekt oppdages, desto raskere kan det reageres. Med det unike makroobjektivet til DM3 XL får du 30% større synsfelt. Dette muliggjør raskere oppdagelse av defekter og øker gjennomstrømningen din. I tillegg bruker DM3 XL LED-belysning for alle kontrastmetoder. Dette gir en konstant fargetemperatur og gir deg ekte fargegjengivelse i alle intensitetsnivåer. - Økning av gjennomstrømning - Pålitelig oppdage utviklingsfeil på kanten eller i sentrum av en wafer - Avdekke ujevnheter i de radiale lagtykkelsene - Naturlig fargegjengivelse i alle intensitetsnivåer uten justering - Reproduserbare resultater