XIR

Nettbasert fuktighetsmåling med nær infrarød NIR Nær infrarød analysator for prosessfuktighetsmåling Høystabilt målesystem Dobbeltstråleoptikk unngår enhver drift av analysatoren. Uavhengig av: - Temperatur - Partikkelstørrelse - Måleavstand Høyhastighetsmåling med stort registreringsområde Rask og enkel installasjon med medfølgende kalibreringstabeller og enkel utvidelse Måleprinsippet gjør det mulig å måle nesten hvert produkt. Nøyaktigheten er i alle tilfeller bedre enn 1% og kan avhenge av bruken være ned til 0,1%.