Radiofrekvensprober - brukt for å kontakte mange standardiserte RF-kontakter og RF-kontakter
Radiofrekvensprober - brukt for å kontakte mange standardiserte RF-kontakter og RF-kontakter

Radiofrekvensprober - brukt for å kontakte mange standardiserte RF-kontakter og RF-kontakter

Kontakt med alle vanlige RF-kontakter: For frekvenser opptil 20 GHz, med smart design for høyest pålitelighet og enkel montering.
Lignende produkter
1/12
Kontaktprober for PCB-test - for bruk i in-circuit og funksjonelle tester
Kontaktprober for PCB-test - for bruk i in-circuit og funksjonelle tester
Stort utvalg av kontaktprober (pogo pins) for kontakt med PCB-er selv under vanskelige kontaktforhold, forskjellige størrelser, spissstiler og fjærkre...
DE-71083 Herrenberg
ViProbe Probe Cards - bevist bøyningsbjelketeknologi med overlegen kontaktkvalitet
ViProbe Probe Cards - bevist bøyningsbjelketeknologi med overlegen kontaktkvalitet
Tilpasset et enormt spekter av applikasjoner, er ViProbe® en bevist bøyningsbjelketeknologi i mer enn 25 år, verdsatt fremfor alt for sin unike repare...
DE-71083 Herrenberg
Testkontakter - tilgjengelig for mange grensesnitt som RJ, USB, HDMI og andre
Testkontakter - tilgjengelig for mange grensesnitt som RJ, USB, HDMI og andre
Feinmetall testkontakter er tilgjengelige for mange grensesnitt som RJ, USB, HDMI og andre. De kan installeres veldig enkelt og effektivt i testoppset...
DE-71083 Herrenberg
LiProbe Probe-kort - for RF-applikasjoner med høy designvariasjon
LiProbe Probe-kort - for RF-applikasjoner med høy designvariasjon
Probekort med lamellkontakt-elementer, spesielt egnet for RF-applikasjoner med høy designvariasjon.
DE-71083 Herrenberg
Fine Pitch Prober - for tilsvarende testkontakter, som muliggjør nøyaktig kontakt med testpunktene
Fine Pitch Prober - for tilsvarende testkontakter, som muliggjør nøyaktig kontakt med testpunktene
På grensen av hva som er mulig: Pålitelige kontaktprober for fineste strukturer og halvlederkontakter ned til 40μm pitch.
DE-71083 Herrenberg
Kontaktprober for bilapplikasjoner - for testing av ledningsnett og kontakter
Kontaktprober for bilapplikasjoner - for testing av ledningsnett og kontakter
Smart designede kontaktprober, gjengede prober, bryterprober, trinnprober, push-back prober - den perfekte kontaktløsningen for hver applikasjon.
DE-71083 Herrenberg
Høystrøms Kontaktprober - for batteritesting og andre høystrømstestapplikasjoner
Høystrøms Kontaktprober - for batteritesting og andre høystrømstestapplikasjoner
Et spesialdesignet sonde gjør det mulig å kontakte med svært høye strømmer og svært lave kontaktmotstander. Ytterligere funksjoner som temperatursenso...
DE-71083 Herrenberg
ViProbe II Probe Cards - tilbyr en betydelig økt produktlevetid og ekstra sikkerhetsfunksjoner
ViProbe II Probe Cards - tilbyr en betydelig økt produktlevetid og ekstra sikkerhetsfunksjoner
Ny versjon av vertikal kontaktteknologi med fokus på økt levetid og andre fordeler.
DE-71083 Herrenberg
Pogo-kontakter - for rask frakobling av elektriske forbindelser
Pogo-kontakter - for rask frakobling av elektriske forbindelser
Pogo-kontakter brukes til ladingsformål eller for signaloverføring mellom avtakbare enheter eller innen produkter.
DE-71083 Herrenberg
Kelvin Prober - for måling av lavimpedansmotstander, spesielt i trange rom
Kelvin Prober - for måling av lavimpedansmotstander, spesielt i trange rom
Firepolsmåling på minimal plass: koaksiale kontaktprober med indre leder som målepinn, fra de minste avstandene til de høyeste strømmene.
DE-71083 Herrenberg
Bryterprober - for tilstedeværelse og posisjonstest
Bryterprober - for tilstedeværelse og posisjonstest
Bryterprober er kontaktprober med integrert bryterfunksjon, som åpner eller lukker etter en viss bevegelse. Dette er veldig nyttig for å teste tilsted...
DE-71083 Herrenberg
MµProbe Probe-kort - for MEMS kontakt-elementer og wafer-testing for fine pitch full array applikasjoner
MµProbe Probe-kort - for MEMS kontakt-elementer og wafer-testing for fine pitch full array applikasjoner
MµProbe® proberkort er preget av MEMS kontaktkomponenter og er spesielt egnet for fine pitch full array-applikasjoner i wafer-testing.
DE-71083 Herrenberg