Et mikroskop er nødvendig for å undersøke agglomeratene i polyolefiner for å bestemme graden av dispersjon. Det digitale kameraet brukes til bildeopptak, dokumentasjon og arkivering. Det leveres med bildebehandlingsprogramvare og en PC for automatisk bestemmelse av dispersjonsgraden. I henhold til ISO 18553, ASTM D 5596
Høy kvalitet på seksjonering av prøver for lysmikroskopi, elektronmikroskopi og atommikroskopi har aldri vært så enkelt og presist. Leica Microsystems...
Vesentlige egenskaper
- Direkte posisjonering i to akser ved hjelp av linearmotorer
- Absolutt måling av posisjonen, dermed slipper man referering, ba...
AFM har en sterk posisjon innen vitenskapelig forskning og brukes som et rutinemessig analytisk verktøy for karakterisering av fysiske egenskaper med ...
XploRa-serien, et kompakt og robust konfokalt Raman-mikroskop for farmasøytiske, rettsmedisinske, biologiske, geologiske, materialanalyse eller kunsta...
Viktig for å oppnå en god måling er at arbeidsstykket er så rent som mulig og ikke har noen gratdannelser.
Dimensjonsmåleteknikk:
Profilprojektor / M...
Den nyutviklede mikroskopoptikken for infrarød kamera optris PI 640 muliggjør nøyaktig og pålitelig temperaturmåling på kretskort. Både hele kretskort...
Det optiske 3D-profilometeret Nexview™ NX2 er utviklet for de mest krevende applikasjonene og kombinerer spesielt høy presisjon, avanserte algoritmer,...
Høy kvalitet på seksjonering av prøver for lysmikroskopi, elektronmikroskopi og atommikroskopi har aldri vært så enkelt og presist. Leica Microsystems...
Vesentlige egenskaper
- Direkte posisjonering i to akser ved hjelp av linearmotorer
- Absolutt måling av posisjonen, dermed slipper man referering, ba...
AFM har en sterk posisjon innen vitenskapelig forskning og brukes som et rutinemessig analytisk verktøy for karakterisering av fysiske egenskaper med ...
XploRa-serien, et kompakt og robust konfokalt Raman-mikroskop for farmasøytiske, rettsmedisinske, biologiske, geologiske, materialanalyse eller kunsta...
Viktig for å oppnå en god måling er at arbeidsstykket er så rent som mulig og ikke har noen gratdannelser.
Dimensjonsmåleteknikk:
Profilprojektor / M...
Den nyutviklede mikroskopoptikken for infrarød kamera optris PI 640 muliggjør nøyaktig og pålitelig temperaturmåling på kretskort. Både hele kretskort...
Det optiske 3D-profilometeret Nexview™ NX2 er utviklet for de mest krevende applikasjonene og kombinerer spesielt høy presisjon, avanserte algoritmer,...